温度試験
このページではユニバーサルラインの温度試験とその結果を紹介しています。
ユニット構成
生産終了品 SR8IN → 機能互換品 LAC8IN
生産終了品 SR8RY → 機能互換品 LAC8RY
試験項目
高温試験
各伝送ユニット間とパソコンとの間でデジタル接点信号の送受及びパソコンとアナログユニット(UL8AD)間で温度データの計測を行いながら、全ユニットの温度を上昇させる。接点信号の欠落、誤動作が発生しないか。アナログ信号の誤差の程度、パソコンとの通信、データ収集が正常に行えるかの確認を行う。
- 80度まで上昇させて動作を確認しさらに2時間そのままで連続動作させた。
- その後90度まで上昇させて10分間放置して動作確認をした。
- いずれの場合も正常な動作を継続して確認できた。
- アナログ測定 温度表示誤差は約±1度
低温試験
上記と同じような内容で全ユニットの温度を低下させて各種の計測、確認を行う。(結露の可能性があるので基板はコーティングを施す。)
- 常温から-40度まで下げて連続して動作させ連続して異常の無いことを確認した。
- アナログ測定(試験槽内変換回路)の温度表示誤差は約±1度
低温放置試験
低温の動作試験は各部品の発熱でIC内部等は外気温と同じにはならないのでで、全ての電源を遮断したまま温度を下げて12時間放置した後電源を投入して正常に動作するかを確認する。
- -40度まで下げてその状態で12時間放置した後、電源を投入すると直ちに正常に動作するのを確認した。
温度試験結果
平成元年の発売前に温度試験を行ったが更に厳しい条件で試験を行った。今回の試験でも90度からｰ40度の範囲で異常なく動作した。この結果から伝送ユニット等が設置される場所が真夏の炎天下、直射日光が当たる場所や厳冬の屋外等、非常に厳しい環境下でも使用が可能なことを再確認した 。
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